На Иссык-Куле прошел международный семинар по патентному анализу

1764 просмотров Регионы 0

Бишкек, 6 июля /Кабар/. Государственная служба интеллектуальной собственности и инноваций при правительстве КР (Кыргызпатент) 4-5 июля 2017 года совместно с Всемирной организацией интеллектуальной собственности (ВОИС) и Евразийской патентной организацией (ЕАПО) организовали Региональный семинар по патентному анализу. Об этом сообщает пресс-служба Кыргызпатента.

Цель семинара - обсуждение практических вопросов, связанных с использованием патентной информации и инструментов патентного поиска, а также подготовка отчетов о патентных ландшафтах и обмен передовым опытом в этой области.

В своих приветственных словах председатель Кыргызпатента Досалы Эсеналиев, руководитель Федеральной службы по интеллектуальной собственности (Роспатент) Григорий Ивлиев, и.о. начальника Отдела стран Кавказа, Центральной Азии и Восточной Европы ВОИС Илья Грибков и президент ЕАПО Сауле Тлевлесова выразили взаимную признательность организаторам мероприятия, оценили актуальность поставленных в рамках данного семинара вопросов и задач, с пожеланиями продолжения сотрудничества акцентировали надежду на регулярность подобных мероприятий.

Участники семинара ознакомились с последними тенденциями развития методологии анализа патентной информации на основе статистической обработки данных, новейшими инструментами визуализации и обмена патентной информации.

В качестве лекторов выступили представители ВОИС Ирэн Китсара и Пол Олдхам, от ЕАПВ Андрей Кондрат и от Роспатента Олег Ена. Лекторы презентовали доклады, охватывающие различные аспекты подготовки отчета о патентном ландшафте, были показаны возможности использования полученных результатов, в частности, для описания и изучения ситуации с патентной охраной конкретной технологии в определенной стране, разработки стратегий патентования собственных технологий и их лицензирования, а также принятия иных бизнес-решений на основе полученного материала.

Представители национальных патентных ведомств Армении, Азербайджана, Беларуси, Казахстана, Кыргызстана, Таджикистана, Туркменистана, Узбекистана представили краткие доклады об основных статистических показателях национальных патентных процедур и о подходах в ведомствах к работе с патентной аналитикой.

В завершение семинара Грибков отметил высокий уровень организации мероприятия и выразил благодарность всем сотрудникам Кыргызпатента.

В работе семинара приняли участие представители ВОИС, ЕАПО, патентных ведомств России, Армении, Азербайджана, Молдовы, Беларуси, Казахстана, Таджикистана, Туркменистана, Узбекистана, Эстонии, Аппарата Жогорк уКенеша, министерств, ведомств КР, бизнес сообщества, изобретатели и сотрудники Кыргызпатента.

Справка. Патентный анализ – это один из современных инструментов исследования, применяемых для решения круга технических, конъюнктурных и правовых задач, связанных с разработкой и продвижением на рынок продукции, содержащей научно-технические достижения.

Комментарии

Оставить комментарий